終了'１０ 画像センシング展 出展のご案内
2010年05月05日
‘１０ 画像センシング展 出展のご案内
出展のご案内
この度、出展の運びとなりました、弊社出展機器の全周囲果実外観センサは柑橘系農作物（みかん・伊予柑など）や落葉系果実（梨・リンゴなど）の外観計測を行い、全周囲型（上側面・底面）で、傷・形状・色付きなどを幅広い計測項目を持ちながらも低コストを実現した検査装置です。
当日は、デモ機をご用意いたしておりますので、実際の操作感をご覧いただけます。
皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。
| 開催日時 | 2010年6月9日（水）～11日（金） 10：00～17：00 |
| 会場 |
パシフィコ横浜 展示ホール（横浜市西区みなとみらい1-1-1） |
| ブースNo. | 59 |
| 出展内容 | 全周囲果実外観センサ Φs-Ev(FAIs-Ev) *仮称 |
| 備考 | 入場無料（※必ずご招待券をお持ち下さい。） |
出展機器のご紹介
全周囲果実外観センサ Φs-Ev(FAIs-Ev) *仮称 （ファイズ・イーブイ）
■特徴
・ 形状、色付き、病傷害などさまざまな計測項目をサポート。
・ 各種検査項目、等級・階級の判別を最大１０個/秒で高速処理。
・ 多種多様の搬送ラインに対応可能。
招待券のお申し込み
招待券をご希望の方は、送付先 枚数を明記の上
E-mail：sales2@pacific-systems.co.jp
またはTEL：048-837-2478 (担当 松山) までご連絡ください。
